二維掃描平臺(tái)主要由鋁合金支架、電機(jī)X1、電機(jī)Y1、電機(jī)Z1、電機(jī)X2、電機(jī)Y2、電機(jī)Z2、電機(jī)控制器、樣品支架、探頭1、探頭2組成，可以進(jìn)行太赫茲透射譜、反射譜、反射成像、投射成像的測(cè)量。其中，樣品支架用于放置待測(cè)樣品，電機(jī)X1、電機(jī)Y1用于控制探頭1進(jìn)行X、Y兩個(gè)方向的平移，電機(jī)X2、電機(jī)Y2用于控制探頭2進(jìn)行X、Y兩個(gè)方向的平移，電機(jī)Z1、電機(jī)Z2分別可對(duì)探頭1、探頭2進(jìn)行調(diào)焦，從而適應(yīng)不同的樣品厚度。